基于PXI/PXIe总线平台
半导体测试系统
基于PXI/PXIe总线平台
模块化硬件和软件
软件无线电设计思路
易于升级,软件二次开发
灵活的、可定制的测试接口
提供全面的信号测量与分析
覆盖实验室特征分析到量产测试整个生命周期
概述
随着半导体工艺的飞速发展,系统芯片逐渐成为集成电路设计的主流发展趋势,芯片的系统复杂度提高、速度提升、规模扩大,传统的测试方法远远无法满足半导体技术的测试覆盖率需求。
基于PXI/PXIe总线平台的半导体测试系统,开放式与模块化的设计,可以帮助用户获得更大的计算能力及更丰富的仪器资源,进一步提升系统硬件复用率与半导体测试效率,降低系统测试成本。同时,该系统灵活的扩展能力,可以有效覆盖半导体产品设计验证、研发测试、生产测试等全生命周期。
关键指标/特性
覆盖实验室特征分析、晶圆测试(WAT、CP、晶圆可靠性测试等)、FT测试以及SLT系统级测试
射频子系统:
输入/输出频率范围:高达44GHz
实时分析带宽:1GHz
最大采样率:1.25GS/s
通道数:单收单发,可扩展至48个双向射频端口
测量功能:S参数和宽频带测量
直流信号:
电流分辨率:高达100fA
电流类型:直流、脉冲
交流信号:
最大带宽:5GHz
最大采样率:12.5GS/s
通道数:2,4,8
解决方案
半导体测试系统采用通用的硬件和软件,能轻松实现从实验室特征分析到量产测试的快速转换,便于数据关联,从而大幅减少了研发周期和成本,提升了测试效率。
半导体测试系统采用通用的软件框架,可根据不同的测试需求灵活部署软件架构,简化了测试开发流程,节省了大量时间,完全满足快速发展的半导体技术需求,适用于实验室研究、生成测试等。
半导体测试系统基于模块化的开放式设计,提供一个可以升级测试能力并且满足下一代测试需求的框架,能够利用最新的PXI仪器和基于最好的COTS技术的PXI控制器来升级或强化关键组件,从而以经济高效的方式适应不断变化的需求。
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